講演

日時：2024年9月11日（水）　（オンライン展示：2024年8月21日(水)～9月12日(木)）

会場：オンライン　LIVE配信（Zoom、Vimeo）

入場料：無料（要事前登録）

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フラウンホーファーEMI （エルンスト・マッハ研究所）のDr. Malte A. Kurfissが基調講演を行います。

日時：2024年9月11日（水）14:10-14:40　（ブロック：D1）

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講演タイトル：
自動車衝突試験における高速X線動画撮影技術
High-Speed X-ray videos for car crash testing

概要：
フラウンホーファーEMI（エルンスト・マッハ研究所）では、X線フラッシュラジオグラフィーを用いて、最大数km/sの速度で発生する過渡的な衝突過程を、1マイクロ秒以下の時間分解能で撮影する技術を開発している。これまでの実験では、一実験あたりで撮影できるX線画像の枚数に制約があったが、EMIでは線形加速器を導入し、通常4マイクロ秒のパルス長で連続的にX線パルスを生成することに成功した。これにより、数十m/sの現象をX線撮影することが可能となり、X線検出器内の高速カメラを線形加速器のパルスに同期させることで、自動車衝突試験における光学カメラシステムと同等の1kHzのフレームレートを実現した。本講演では、1kHzのX線動画を使用した初の完全な自動車衝突試験について解説する。また、有限要素法（FEM）ポストプロセッシング や、バッテリーの過酷条件での試験における最新の手法についても紹介する。

講師プロフィール：
Dr. Malte Kurfissは、フラウンホーファーEMI（エルンスト・マッハ研究所）にてCrash Test Centerの責任者を務める物理学者である。ドイツのザールブリュッケンおよびハンブルクで物理学を学び、ナノ構造物理学を専攻し卒業。ハンブルク応用物理学研究所で半導体および薄膜物理学に関する博士号を取得。2006年にYXLON International GmbHに入社し、X線源および発生器のプロダクトマネージャーを務める。3年後にはコンピュータ断層撮影の専門家となり、2011年に製品マーケティング部門のディレクターに就任。その後、工業用カメラシステムを専門とするAllied Visions GmbHで製品管理、マーケティング、および事業開発部門のディレクターとして活躍。2015年にフラウンホーファーEMI入所。主な業績に、車両内部構造の高速衝突データを取得し、自動車の安全性研究の一層の進展を目指す「X-ray Car Crash」プロジェクトがある。
 

詳細な情報は、開催案内ページよりご確認ください。